工業(yè)CT技術(shù)在航空發(fā)動(dòng)機(jī)單晶葉片壁厚測(cè)量中的應(yīng)用

在航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片的眾多技術(shù)指標(biāo)中，葉片壁厚是一個(gè)非常關(guān)鍵的指標(biāo)。目前，葉片壁厚的測(cè)量方法主要有超聲測(cè)厚法、渦流掃描測(cè)量法、電磁霍爾效應(yīng)法等。其中，渦流掃描測(cè)量法因葉片外形的原因，檢測(cè)復(fù)雜，容易造成測(cè)量誤差；電磁霍爾效應(yīng)法重復(fù)定位性低，無(wú)法得到一致性較高的測(cè)量結(jié)果，但在單晶葉片和型腔復(fù)雜葉片的應(yīng)用中具有一定局限性：?jiǎn)尉Р牧系母飨虍愋裕斐沙暡ㄋ俚母飨虍愋裕o單晶葉片壁厚的超聲測(cè)厚時(shí)入射聲束與晶體取向的夾角關(guān)系，可對(duì)單晶葉片超聲測(cè)厚中的聲速進(jìn)行修正，但過(guò)程比較復(fù)雜，探頭定位困難，測(cè)量結(jié)果的一致性較差；更為糟糕的是，當(dāng)單晶葉片的型面比較復(fù)雜是，入射波在葉片內(nèi)壁的反射比較復(fù)雜，不能簡(jiǎn)單通過(guò)反射波得到實(shí)際聲波的傳播路徑，也就不能準(zhǔn)確地測(cè)量單晶葉片壁厚。

工業(yè)CT技術(shù)的主要特點(diǎn)有：不受試件材料種類(lèi)、形狀結(jié)構(gòu)及表面狀況等限制；能給出與試件的幾何結(jié)構(gòu)、組分及密度特性相對(duì)應(yīng)的斷層圖像，且成像直觀、目標(biāo)特征不受周?chē)?xì)節(jié)的遮擋；可方便地測(cè)量?jī)?nèi)部結(jié)果尺寸等。

這些特點(diǎn)正好彌補(bǔ)了超聲測(cè)厚法檢測(cè)單晶材料的不足，可很好地解決單晶葉片壁厚測(cè)量的問(wèn)題。從單晶葉片不同截面的CT圖像可清晰的看到單晶葉片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，且可進(jìn)行壁厚測(cè)量。工業(yè)CT技術(shù)能有效的解決我國(guó)航空發(fā)動(dòng)機(jī)領(lǐng)域單晶葉片壁厚測(cè)量的技術(shù)難題，提高我國(guó)航空發(fā)動(dòng)機(jī)使用的安全性和可靠性。